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塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗儀探針臺漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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HCLD-3產(chǎn)品*可靠漏電起痕試驗機(jī)測試儀器

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HCLD-3產(chǎn)品*漏電起痕試驗機(jī)測試儀器

更新時間：2023-08-29

型號：HCLD-3

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固體絕緣材料漏電起痕試驗機(jī)，測試儀器HCLD-III適用于對電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測量評定環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級。
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HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕測試儀

更新時間：2024-06-13

型號：HCLD-III

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電氣絕緣材料漏電起痕測試儀，HCLD-III適用于對電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測量評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級。本機(jī)是嚴(yán)格按照GB/T6553-2003 及 IEC60587-1984設(shè)計制造。
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