簡要描述:MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導體塊狀,為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | HUACE/北京華測 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應用領域 | 化工,能源,電子,電氣,綜合 |
MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導體塊狀
一、升溫迅速高溫介電溫譜儀組成部分
它由硬件設備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。它為樣品提供一個高溫環(huán)境;高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺;阻抗分析儀則負責測試各組參數(shù)數(shù)據(jù)。后,再通過測量軟件將這些硬件設備的功能整合在一起,形成一套由實驗方案設計到溫度控制、參數(shù)測量、圖形數(shù)據(jù)顯示與數(shù)據(jù)分析于一體的測量系統(tǒng)。
二、升溫迅速高溫介電溫譜儀特點
可以實現(xiàn)常溫、高溫、低頻條件下測量塊體樣品的介電;
可以測量阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D等物理量;
可以直接測量介電常數(shù)和損耗,阻抗譜Cole-Cole圖;
集成一體化設計,觸摸屏控制和顯示,具有易用性;
電動升降平臺,彈簧電極系統(tǒng),操作簡單,使用方便;
系統(tǒng)自帶溫度功能,讓測量溫度盡可能與樣品實際溫度保持一致;
系統(tǒng)采用PID模糊算法,具有控溫、超溫保護、一鍵自整定、故障診斷功能;
高溫條件下模擬導線,可有效增加測試的頻率帶寬,減小電爐絲的交流干擾
三、技術指標
溫度范圍:室溫-800℃,(反射爐加溫)配水冷機);
控溫精度:±0.5℃;
測量精度:±0.25℃;
升溫斜率:1-800℃/min(*快可10秒達800度);
降溫斜率:1-200℃/min(可自調整);
頻率范圍:20Hz-1MHz;
測量精度:0.05%;
樣品規(guī)格:直徑:20mm以內;厚度:5mm以內;
電極材料:鉑金;
測量方式:2線-4線測量方式;
供電:220V±10%,50Hz;
工作環(huán)境:0℃-55℃;
存儲條件:-40℃-70℃;
尺寸:750mmX660mm×360mm;
重量:25kg
四、產(chǎn)品優(yōu)勢
華測公司為針對新材料電檢測儀器全系列廠家,試驗效率高。
可實現(xiàn)高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測試。
可實現(xiàn)小于±0.5℃溫度測量誤差(限反射爐),jing度控制在±0.25℃以內。
五、使用范圍
可測量陶瓷、薄膜、半導體等塊狀材料高溫介電特性,可同時測量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、介電溫譜的測量數(shù)據(jù)與圖形。
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