介紹HCDJC-50KV擊穿電壓試驗儀

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產(chǎn)品簡介

電壓擊穿試驗儀，又叫電壓擊穿測試儀，主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時間的測試.

符合標(biāo)準(zhǔn)：
●GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗方法　第1部分；工頻下試驗、第2部分》
●GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測定方法》
●GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》
●GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》 
●DL/T 376-2010 復(fù)合絕緣子用硅橡膠絕緣材料通用技術(shù)條件
●ASTM D149 - 09 《固體電絕緣材料在商用電源頻率下的介電擊穿電壓和介電強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法》

技術(shù)指標(biāo):
●供電電源：220V AC    頻率：50HZ           設(shè)備功率：1KVA
●使用條件：環(huán)境溫度：（23±2）℃            環(huán)境濕度：（50±5）% 
●zui大電壓：交流20kV 直流20Kv              試驗方式：擊穿、耐壓、階梯升壓
●電壓精度：0-1kV≦5% ,1kV~20kV≦1.5%     電流精度：≦1.5%
●遠(yuǎn)程控制：可選配                           電流量程：30mA   
●升壓速率 0.1 kV/S、0.2 kV/S、0.5 kV/S。
●控制系統(tǒng)：PLC                      設(shè)備尺寸：700X500X1400

儀器優(yōu)勢:   
● TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)： 
目前材料采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理。對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。這也就是國產(chǎn)儀器維護(hù)率過高的主要原因。而華測的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，。

●多級循環(huán)電壓采集技術(shù)： 
  材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。 

●低通濾波電流監(jiān)測技術(shù): 
高壓壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號。而無論是國產(chǎn)與電流采集傳感器，大都為工頻電流傳感器。而采集過程中無法將高頻信號處理。從而造成檢測不準(zhǔn)確。同時無論是采用磁通門或霍爾原理都存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號過大，從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分（隔離只起到屏蔽）。華測開發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻夾波信號處
理后，傳入PLC同時采用穩(wěn)壓技術(shù)而保證電流采集精度與保護(hù)采集元件。  

●雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)： 
  采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器，目前電壓擊穿儀器大都具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng)，假如，過壓或過流元失效，何來防護(hù)試驗儀器及操作人員。而華測*的雙系統(tǒng)相互制約，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時，將瞬間切斷高壓。 

軟件功能:
●操作系統(tǒng)：支持XP，win7,win8系統(tǒng)，操作人性化；
●實時監(jiān)測：在實驗過程中可以動態(tài)顯示試驗曲線；
●數(shù)據(jù)導(dǎo)出：試驗結(jié)果方便導(dǎo)出。
●實驗報告：自定義報告名稱，并對實驗報告進(jìn)行打?。?/span>
●試驗方式：直流試驗和交流試驗進(jìn)行選擇；
●試驗方法：擊穿電壓、耐壓試驗、階梯升壓試驗多種選擇；
●參數(shù)設(shè)置：可以根據(jù)不同的試驗方式及試驗方法靈活設(shè)置所需的不同參數(shù)值
●功能：可針對設(shè)備進(jìn)行設(shè)置；
●：支持及美準(zhǔn)；
●報警功能：軟件具備電壓、電流報警功能。