帶你了解高溫鐵電測(cè)試儀的系統(tǒng)組成及特性
更新時(shí)間:2020-06-08 點(diǎn)擊次數(shù):776
高溫鐵電測(cè)試儀是一套建立在高溫高壓下的鐵電測(cè)量系統(tǒng),旨在針對(duì)一些特殊的要求材料需要在高溫下測(cè)量而研發(fā)的一套鐵電測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實(shí)現(xiàn)了高溫測(cè)試,而且在電壓和頻率上進(jìn)行了提高,對(duì)鐵電材料研究和測(cè)試帶來(lái)重要的幫助,該系統(tǒng)可以測(cè)量鐵電材料的電滯回線,飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開(kāi)關(guān)特性等的測(cè)試,是科研機(jī)構(gòu)和高等院校進(jìn)行研究的重要輔助工具。
高溫鐵電測(cè)試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
高溫鐵電測(cè)試儀采用虛地模式測(cè)量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和,并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度,它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數(shù),以及對(duì)鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測(cè)試。。儀器采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡(jiǎn)單方便。